日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
型號：MCPD系列
光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700） 提供豐富選配套件以及客制化光纖， 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計(jì)，是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時(shí)測量系統(tǒng)
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產(chǎn)品描述
分光光譜儀種類
MCPD-9800：高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700：高感度分光
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能性薄膜、包裝膜
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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能性薄膜、包裝膜。
影印機(jī)感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
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LB膜測量
蒸餾膜測量
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多點(diǎn)膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
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